လျှို့ဝှက်ဆန်းကြယ်မှုကို ထုတ်ဖော်ခြင်း- လစ်သီယမ်-အိုင်းယွန်း ဘက်ထရီများတွင် စူပါသီအိုရီစွမ်းရည်

အဘယ်ကြောင့်ဆိုသော် လီသီယမ်ဘက်ထရီသည် စူပါသီအိုရီဆိုင်ရာ စွမ်းရည်ဖြစ်စဉ် တည်ရှိနေပါသည်။

လစ်သီယမ်-အိုင်းယွန်းဘက်ထရီများ (LIBs) တွင်၊ အကူးအပြောင်း သတ္တုအောက်ဆိုဒ်အခြေခံလျှပ်ကူးပစ္စည်းအများအပြားသည် ၎င်းတို့၏သီအိုရီတန်ဖိုးထက် ကျော်လွန်၍ သိုလှောင်မှုပမာဏ ပုံမှန်မဟုတ်စွာ မြင့်မားနေပါသည်။ ဤဖြစ်စဉ်ကို ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် အစီရင်ခံထားသော်လည်း ဤပစ္စည်းများရှိ ဇီဝကမ္မဓာတုယန္တရားများသည် ခက်ခက်ခဲခဲ ဆက်လက်တည်ရှိနေပြီး ငြင်းခုံစရာကိစ္စတစ်ခုအဖြစ် ရှိနေသေးသည်။

ရလဒ်များ၏ ပရိုဖိုင်

မကြာသေးမီက University of Waterloo မှ ပါမောက္ခ Miao Guoxing၊ Austin University of Texas မှ ပါမောက္ခ Yu Guihua နှင့် Qingdao University မှ Li Hongsen နှင့် Li Qiang တို့ ပူးပေါင်းထုတ်ဝေသည့် "Extra Storage Capacity in" ခေါင်းစဉ်ဖြင့် သဘာဝပစ္စည်းများဆိုင်ရာ သုတေသနစာတမ်းကို အကူးအပြောင်း သတ္တုအောက်ဆိုဒ် လစ်သီယမ်-အိုင်းယွန်းဘက်ထရီများကို situ magnetometry တွင် ဖော်ပြသည်။ ဤလုပ်ငန်းတွင် စာရေးသူများသည် သတ္တုနာနိုအမှုန်များပေါ်တွင် အားကောင်းသော မျက်နှာပြင်စွမ်းရည်ရှိမှုကို သရုပ်ပြသရန်နှင့် spatial charge ယန္တရားနှင့် ကိုက်ညီသော လျှော့ချပြီးသား သတ္တုနာနိုအမှုန်များတွင် သိမ်းဆည်းထားနိုင်သည်ကို ဤအလုပ်တွင် စာရေးသူက အသုံးပြုခဲ့သည်။ ထို့အပြင်၊ ထင်ရှားသော spatial charge mechanism ကို အခြားသော အသွင်ကူးပြောင်းရေး သတ္တုဒြပ်ပေါင်းများထံ တိုးချဲ့နိုင်ပြီး အဆင့်မြင့် စွမ်းအင်သိုလှောင်မှုစနစ်များ တည်ထောင်ခြင်းအတွက် အဓိက လမ်းညွှန်ချက်တစ်ခု ပေးဆောင်နိုင်သည်။

သုတေသနပျေါလှငျ

(၁) Li ဘက်ထရီအတွင်းရှိ အီလက်ထရွန်နစ်ဖွဲ့စည်းပုံ၏ ဆင့်ကဲဖြစ်စဉ်ကို in-situ သံလိုက်စောင့်ကြည့်ရေးနည်းပညာသုံး၍ ပုံမှန် Fe ကို လေ့လာခဲ့သည်။

(2) Fe3O4 သည် / Li စနစ်တွင်၊ မျက်နှာပြင်အားသွင်းနိုင်မှုပမာဏသည် အပိုစွမ်းရည်၏ အဓိကအရင်းအမြစ်ဖြစ်ကြောင်း ဖော်ပြသည်။

(၃) သတ္တုနာနိုအမှုန်များ၏ မျက်နှာပြင် စွမ်းဆောင်ရည် ယန္တရားအား အသွင်ကူးပြောင်းရေး သတ္တုဒြပ်ပေါင်းများ ကျယ်ပြန့်စွာ တိုးချဲ့နိုင်သည်။

စာသားနှင့်စာသားလမ်းညွှန်

1. ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံသွင်ပြင်လက္ခဏာနှင့် electrochemical ဂုဏ်သတ္တိများ

Monodisperse hollow Fe ကို သမားရိုးကျ hydrothermal method3O4Nanospheres ဖြင့် ပေါင်းစပ်ပြီး 100 mAg−1Charge ဖြင့် လုပ်ဆောင်ပြီး လက်ရှိသိပ်သည်းဆ (ပုံ 1a) တွင် စွန့်ထုတ်နိုင်စွမ်းမှာ ပထမအကြိမ်ထုတ်လွှတ်နိုင်မှုမှာ 1718 mAh g−1၊ ဒုတိယနှင့် တတိယအကြိမ်တွင် 1370 mAhg ဖြစ်သည်၊ 1 နှင့် 1,364 mAhg−1၊ 926 mAhg−1 မျှော်လင့်ခြင်းသီအိုရီထက် ကျော်လွန်သည်။ BF-STEM ရုပ်ပုံများသည် လီသီယမ် လျှော့ချပြီးနောက် Fe1O3 နာနိုစဖီးယားများကို 4-1 nm ခန့် တိုင်းတာသည့် Fe nanoparticles ငယ်များအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲသွားပြီး Li3O အလယ်ဗဟိုတွင် ပြန့်ကျဲနေကြောင်း ဖော်ပြသည်။

လျှပ်စစ်ဓာတုစက်ဝန်းအတွင်း သံလိုက်ဓာတ်ပြောင်းလဲမှုကို သက်သေပြရန်၊ 0.01 V သို့ အပြည့်ထွက်ပြီးနောက် သံလိုက်လိုက်ခြင်းမျဉ်းကွေးကို ရရှိခဲ့သည် (ပုံ 1d)၊ နာနိုအမှုန်များဖွဲ့စည်းခြင်းကြောင့် superparamagnetic အပြုအမူကိုပြသသည်။

ပုံ 1 (က) 100 mAg−1Fe တွင် စက်ဘီးစီးခြင်း၏ 3 mAg−4Fe တွင် လက်ရှိသိပ်သည်းဆ3O4/ Li ဘက်ထရီ၏ အဆက်မပြတ် လက်ရှိအားသွင်းမှုနှင့် ထုတ်လွှတ်မှုမျဉ်းကွေး၊ (ခ) အပြည့်အဝ လီသီယမ် Fe2O3 လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ BF-STEM ရုပ်ပုံ၊ (ဂ) O နှင့် Fe နှစ်ခုလုံး၏ ပေါင်းစပ် 4 High-resolution BF-STEM ပုံများတွင် Li ၏ တည်ရှိနေမှု၊ (ဃ) FeXNUMXOXNUMX လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ hysteresis မျဉ်းကွေး (အနက်ရောင်) နှင့် ပြီးနောက် (အပြာ) နှင့် Langevin တို့သည် နောက်ပိုင်း (ခရမ်းရောင်) နှင့် အံဝင်ခွင်ကျရှိသော မျဉ်းကွေးများ။

2. ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံနှင့် သံလိုက်ဆင့်ကဲဖြစ်စဉ်များကို အချိန်နှင့်တပြေးညီ သိရှိနိုင်ခြင်း

လျှပ်စစ်ဓာတုဗေဒကို Fe3O4O ၏ဖွဲ့စည်းပုံနှင့် သံလိုက်ပြောင်းလဲမှုများနှင့် ပေါင်းစပ်ရန်အတွက် Fe3O4 မှ အီလက်ထရွန်းများကို situ X-ray diffraction (XRD) နှင့် situ magnetic monitoring တွင် ထားရှိခဲ့ပါသည်။ Open-circuit voltage (OCV) မှ 1.2V3O4 သို့ ကနဦးထုတ်လွှတ်စဉ်အတွင်း Fe ၏ XRD diffraction patterns များသည် ပြင်းထန်မှု သို့မဟုတ် အနေအထားတွင် သိသိသာသာ ပြောင်းလဲခြင်းမရှိပါ (ပုံ 2a) သည် Fe3O4 သာလျှင် Li intercalation လုပ်ငန်းစဉ်ကို တွေ့ကြုံခံစားရကြောင်း ညွှန်ပြပါသည်။ 3V သို့ အားသွင်းသောအခါ၊ Fe3O4 ဆန့်ကျင်သော spinel တည်ဆောက်ပုံသည် နဂိုအတိုင်း ကျန်ရှိနေသည်၊၊ ဤဗို့အားဝင်းဒိုးရှိ လုပ်ငန်းစဉ်သည် အလွန်ပြောင်းပြန်ဖြစ်နိုင်သည်ဟု အကြံပြုပါသည်။ အချိန်နှင့်တပြေးညီ သံလိုက်ဓာတ် မည်ကဲ့သို့ ပြောင်းလဲလာသည်ကို စုံစမ်းရန် စဉ်ဆက်မပြတ် လက်ရှိ အားသွင်းခြင်း စမ်းသပ်မှုများနှင့် ပေါင်းစပ်ထားသော စက်တွင်းသံလိုက် စောင့်ကြည့်စစ်ဆေးခြင်းကို လုပ်ဆောင်ခဲ့သည် (ပုံ 2b)။

ပုံ 2 in-site XRD နှင့် သံလိုက်စောင့်ကြည့်ခြင်း၏ လက္ခဏာရပ်များ။(က) situ XRD; (ခ) 3T အောက်ရှိ Fe4O3Electrochemical charge-discharge curve curve သည် သံလိုက်စက်ကွင်းကို အသုံးချပြီး situ သံလိုက်တုံ့ပြန်မှုတွင် သက်ဆိုင်ရာ နောက်ပြန်လှည့်နိုင်သည်။

သံလိုက်ပြောင်းလဲခြင်းဆိုင်ရာ သတ်မှတ်ချက်များတွင် ဤပြောင်းလဲခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်၏ အခြေခံနားလည်မှုကို ပိုမိုရရှိစေရန်၊ သံလိုက်တုံ့ပြန်မှုကို အချိန်နှင့်တပြေးညီ စုဆောင်းပြီး လျှပ်စစ်ဓာတုဗေဒဆိုင်ရာ တုံ့ပြန်မှုများပါရှိသော သက်ဆိုင်ရာအဆင့်အကူးအပြောင်း (ပုံ 3)။ ပထမအကြိမ်ထုတ်လွှတ်စဉ်အတွင်း Fe3O4 လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ သံလိုက်တုံ့ပြန်မှု သည် ပထမ lithalization3O4 တွင် Fe ကြောင့် အခြားစက်ဝန်းများနှင့် မတူကြောင်း ရှင်းရှင်းလင်းလင်း သိသာပါသည်။ အလားအလာ 0.78V သို့ ကျဆင်းသွားသောအခါ၊ Fe3O4 အဆိုပါ antispinel အဆင့်သည် Li2 ပါဝင်သော O, Fe3O4 အတန်းအစား FeO halite တည်ဆောက်ပုံသို့ ပြောင်းလဲသွားပြီး အားသွင်းပြီးနောက် အဆင့်ကို ပြန်လည်မရနိုင်ပါ။ တစ်ဆက်တည်းတွင်၊ သံလိုက်ဓာတ်သည် 0.482 μb Fe−1 သို့ လျင်မြန်စွာကျဆင်းသွားသည်။ lithialization ဆက်လုပ်လာသည်နှင့်အမျှ၊ အဆင့်အသစ်မဖွဲ့စည်းဘဲ၊ (200) နှင့် (220) class FeO diffraction peaks များ၏ပြင်းထန်မှုစတင်အားနည်းလာသည်။equal Fe3O4လျှပ်ကူးပစ္စည်းအား လုံးဝ Liialized ဖြစ်သောအခါတွင် သိသာထင်ရှားသော XRD အထွတ်အထိပ်ကို ထိန်းထားခြင်းမရှိပါ (ပုံ 3a)။ Fe3O4 လျှပ်ကူးပစ္စည်းသည် 0.78V မှ 0.45V မှ 0.482V သို့ ထွက်သွားသောအခါ၊ သံလိုက်လိုက်ခြင်း (1 μ b Fe−1.266 မှ 1 μ bFe−1.132 သို့တိုးလာသည်)၊ ၎င်းသည် FeO မှ Fe သို့ပြောင်းလဲခြင်းတုံ့ပြန်မှုကြောင့်ဟု မှတ်သားရပါသည်။ ထို့နောက် ထုတ်လွှတ်မှုအဆုံးတွင်၊ သံလိုက်ဓာတ်သည် 1 μ B Fe−0 သို့ ဖြည်းဖြည်းချင်း လျော့ကျသွားသည်။ ဤတွေ့ရှိချက်သည် အပြည့်အဝလျှော့ချထားသော သတ္တု FeXNUMXNanoparticles များသည် လစ်သီယမ်သိုလှောင်မှုတုံ့ပြန်မှုတွင် ပါဝင်နေဆဲဖြစ်ပြီး လျှပ်ကူးပစ္စည်းများ၏ သံလိုက်ဓာတ်ကို လျှော့ချနိုင်သည်ဟု အကြံပြုထားသည်။

ပုံ 3 အဆင့်အကူးအပြောင်းနှင့် သံလိုက်တုံ့ပြန်မှုတို့ကို တည်နေရာလေ့လာတွေ့ရှိချက်များတွင် ဖော်ပြထားသည်။ (ခ) Fe3O4 သည် 3 T ရှိသော သံလိုက်စက်ကွင်းရှိ / Li ဆဲလ်များ၏ လျှပ်စစ်ဓာတုစက်ဝန်းများ၏ သံလိုက်စွမ်းအားကို တိုင်းတာခြင်း။

3. O စနစ်၏ Fe0/Li2Surface capacitance

Fe3O4 လျှပ်ကူးပစ္စည်းများ၏ သံလိုက်ပြောင်းလဲမှုများသည် ဗို့အားနိမ့်များတွင် ဖြစ်ပေါ်နိုင်ပြီး၊ ယင်းနောက် ထပ်လျှပ်စစ်ဓာတုစွမ်းရည်ကို အများဆုံးထုတ်ပေးနိုင်ကာ ဆဲလ်အတွင်း မတွေ့ရှိနိုင်သော အားသွင်းသယ်ဆောင်သူများ ရှိနေကြောင်း အကြံပြုသည်။ ဖြစ်နိုင်ချေရှိသော lithium သိုလှောင်မှုယန္တရားကိုစူးစမ်းရန်အတွက် Fe အား XPS၊ STEM နှင့် သံလိုက်စွမ်းဆောင်ရည် spectrum3O4Electrodes များ၏ သံလိုက်ပြောင်းလဲမှု၏အရင်းအမြစ်ကိုဆုံးဖြတ်ရန် 0.01V၊0.45V နှင့် 1.4V တွင် သံလိုက်ပြောင်းလဲမှု၏အရင်းအမြစ်ကိုဆုံးဖြတ်ရန်လေ့လာခဲ့သည်။ ရလဒ်များက သံလိုက်အခိုက်အတန့်သည် သံလိုက်ပြောင်းလဲမှုကို ထိခိုက်စေသည့် အဓိကအချက်ဖြစ်ကြောင်း ပြသသည်၊ အကြောင်းမှာ တိုင်းတာထားသော Fe0/Li2The Ms of the O system သည် သံလိုက် anisotropy နှင့် interparticle coupling တို့၏ သက်ရောက်မှုမရှိသောကြောင့်ဖြစ်သည်။

Fe3O4 လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ အရွေ့ဂုဏ်သတ္တိများကို ပိုမိုနားလည်ရန်၊ မတူညီသော စကန်ဖတ်နှုန်းများဖြင့် စက်ဘီးစီးဗို့အားတိုင်းတာမှု။ ပုံ 4a တွင်ပြထားသည့်အတိုင်း၊ စတုဂံစက်ဝိုင်း ဗို့တာမိုဂရမ်မျဉ်းကွေးသည် 0.01V နှင့် 1V ကြားရှိ ဗို့အားအကွာအဝေးအတွင်းတွင် ပေါ်လာသည် (ပုံ 4a)။ ပုံ 4b သည် electrode တွင် Fe3O4A capacitive တုံ့ပြန်မှုဖြစ်ပေါ်ကြောင်းပြသသည်။ စဉ်ဆက်မပြတ် အားသွင်းခြင်းနှင့် စွန့်ထုတ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ် (ပုံ 4c) ၏ အလွန်ပြောင်းပြန်လှန်နိုင်သော သံလိုက်တုံ့ပြန်မှုနှင့်အတူ အီလက်ထရော့ဒ်၏ သံလိုက်ဓာတ်သည် 1V မှ 0.01V သို့ လျော့နည်းသွားကာ အားသွင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း Fe0 ၏ FeXNUMXO ၏ capacitor နှင့်တူကြောင်း ညွှန်ပြသည်။ မျက်နှာပြင်တုံ့ပြန်မှုသည် အလွန်ပြောင်းပြန်ဖြစ်နိုင်သည်။

ပုံ 4 လျှပ်စစ်ဓာတ်ဂုဏ်သတ္တိများနှင့် 0.011 V.(A) တွင်တည်ရှိသော သံလိုက်အသွင်အပြင်တွင် စက်ဘီးစီးဗို့တာမက်ထရစ်မျဉ်းကွေး။(ခ) အမြင့်ဆုံးလျှပ်စီးကြောင်းနှင့် စကန်ဖတ်နှုန်းကြားဆက်စပ်မှုကို အသုံးပြု၍ b တန်ဖိုးကို ဆုံးဖြတ်သည်။ (ဂ) 5 T အသုံးပြုထားသော သံလိုက်စက်ကွင်းအောက်ရှိ အားသွင်း-ထုတ်လွှတ်မျဉ်းကွေးနှင့် ဆက်စပ်သော သံလိုက်လိုက်ခြင်း၏ နောက်ပြန်လှည့်နိုင်သော ပြောင်းလဲမှု။

အထက်ဖော်ပြပါ Fe3O4 လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ လျှပ်စစ်ဓာတု၊ ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံနှင့် သံလိုက်အင်္ဂါရပ်များသည် Fe0 ၏ လှည့်ပတ်-ပိုလာဆန်သော မျက်နှာပြင်စွမ်းရည်ကြောင့် Fe3 ၏ ထပ်လောင်းဘက်ထရီစွမ်းရည်ကို သတ်မှတ်ကြောင်း ညွှန်ပြသည်မှာ သံလိုက်ပြောင်းလဲမှုများကြောင့်ဖြစ်သည်။ Spin-polarized capacitance သည် အင်တာဖေ့စ်တွင် လှည့်ပတ်-ပိုလာဆန်သော အားစုပုံခြင်း၏ ရလဒ်ဖြစ်ပြီး အားသွင်းခြင်းနှင့် စွန့်ထုတ်စဉ်အတွင်း သံလိုက်တုံ့ပြန်မှုကို ပြသနိုင်သည်။to Fe4O2 ပထမဦးဆုံး ထုတ်လွှတ်သည့်လုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း အခြေခံလျှပ်ကူးပစ္စည်းသည် O အလွှာရှိ Li2Fine Fe nanoparticles များတွင် ပြန့်ကျဲသွားပါသည်။ ကြီးမားသော မျက်နှာပြင် မှ ထုထည် အချိုးများကို မြင့်မားစွာ ပုံဖော်ထားသော d orbitals ကြောင့် Fermi အဆင့်ရှိ ပြည်နယ်များ၏ သိပ်သည်းဆကို နားလည်သဘောပေါက်ပါ။ Maier ၏ spatial charge storage သီအိုရီအရ၊ စာရေးသူများသည် Fe/Li5Creating Spin-polarized surface capacitors တွင် တွေ့ရှိနိုင်သည့် metallic Fe nanoparticles ၏ spin-splitting bands တွင် အီလက်ထရွန်အမြောက်အမြားကို သိမ်းဆည်းထားနိုင်သည်ဟု အဆိုပြုထားသည်။ ပုံ ၅)။

ဂရပ် 5Fe/Li2A O-interface ရှိ spin-polarized အီလက်ထရွန်များ၏ မျက်နှာပြင် စွမ်းဆောင်ရည်၏ သရုပ်ဖော်ပုံ။(က) သတ္တုသံလိုက်သတ္တုမှုန်များ၏ မျက်နှာပြင်သိပ်သည်းဆ (ထွက်မပြေးမီနှင့် အပြီး) ဆန့်ကျင်ဘက်၊ သံ၏အမြောက်အများလှည့်ဖျားမှု polarization; (ခ) overstored lithium ၏မျက်နှာပြင် ကာပါစီတာပုံစံတွင် space charge region ကိုဖွဲ့စည်းခြင်း။

အကျဉ်းချုပ်နှင့် Outlook

TM/Li ကို အဆင့်မြင့် in-site သံလိုက်စောင့်ကြည့်ခြင်း 2 လီသီယမ်-အိုင်းယွန်းဘက်ထရီအတွက် ထပ်လောင်းသိုလှောင်နိုင်မှုအရင်းအမြစ်ကိုဖော်ပြရန် O nanocomposite ၏အတွင်းပိုင်း အီလက်ထရွန်နစ်ဖွဲ့စည်းပုံ၏ ဆင့်ကဲဖြစ်စဉ်ကို စုံစမ်းစစ်ဆေးခဲ့သည်။ ရလဒ်များအရ Fe3O4/Li မော်ဒယ်ဆဲလ်စနစ်တွင် Fe2O2/Li မော်ဒယ်ဆဲလ်စနစ်နှစ်ခုလုံးတွင် Fe nanoparticles များသည် လျှပ်စစ်ဓာတုနည်းဖြင့် လျှော့ချထားသော အီလက်ထရွန်များကို spin-polarized အီလက်ထရွန်အမြောက်အမြား သိမ်းဆည်းထားနိုင်ပြီး၊ ရလဒ်မှာ ဆဲလ်စွမ်းရည်အလွန်အကျွံနှင့် အသွင်အပြင်အကြား သံလိုက်ဓာတ်များ သိသိသာသာ ပြောင်းလဲလာခြင်းကြောင့်ဖြစ်သည်။ စမ်းသပ်ချက်များအရ CoO၊ NiO နှင့် FeFXNUMXAnd FeXNUMX တို့သည် N electrode ပစ္စည်းများတွင် ထိုသို့သော စွမ်းရည်ရှိနေခြင်းကို လီသီယမ်အိုင်းယွန်းဘက်ထရီများတွင် သတ္တုနာနိုအမှုန်များ၏ လှည့်ပတ်-ပိုလာဆန်သော မျက်နှာပြင်စွမ်းရည်ရှိမှုကို ညွှန်ပြပြီး အခြားအကူးအပြောင်းတွင် ဤ spatial charge storage ယန္တရား၏အသုံးချမှုအတွက် အုတ်မြစ်ချပေးသည်။ သတ္တုဒြပ်ပေါင်းအခြေခံလျှပ်ကူးပစ္စည်းပစ္စည်းများ။

စာပေလင့်ခ်

အကူးအပြောင်း သတ္တုအောက်ဆိုဒ် လစ်သီယမ်-အိုင်းယွန်း ဘက်ထရီများတွင် အပိုသိုလှောင်မှုပမာဏ (Nature Materials , 2020, DOI: 10.1038/s41563-020-0756-y)

လီသီယမ်လျှပ်ကူးပစ္စည်း wafer ဒီဇိုင်းဖော်မြူလာနှင့် စွမ်းဆောင်ရည်အပေါ် လျှပ်ကူးပစ္စည်း wafer ချို့ယွင်းချက်

1. Pole ရုပ်ရှင်ဒီဇိုင်းအခြေခံဆောင်းပါး

လီသီယမ်ဘက်ထရီ လျှပ်ကူးပစ္စည်းသည် သတ္တုအရည်တွင် အညီအမျှ သက်ရောက်သော အမှုန်အမွှားများဖြင့် ဖွဲ့စည်းထားသည့် အလွှာတစ်ခုဖြစ်သည်။ လစ်သီယမ်အိုင်းယွန်းဘက်ထရီလျှပ်ကူးပစ္စည်းအပေါ်ယံပိုင်းကို အဓိကအားဖြင့် အပိုင်းသုံးပိုင်းဖြင့်ဖွဲ့စည်းထားသော ပေါင်းစပ်ပစ္စည်းအဖြစ် မှတ်ယူနိုင်သည်-

(1) တက်ကြွသောဓာတ်မှုန်များ;

(၂) လျှပ်ကူးအေးဂျင့်၏ဖွဲ့စည်းပုံအဆင့်နှင့် အေးဂျင့် (ကာဗွန်ကော်ပတ်အဆင့်)၊

(၃) ချွေးပေါက်ကို electrolyte ဖြင့်ဖြည့်ပါ။

အဆင့်တစ်ခုစီ၏ ထုထည်ဆက်စပ်မှုကို အောက်ပါအတိုင်း ဖော်ပြသည်။

Porosity + သက်ရှိရုပ်ထုထည်အပိုင်း + ကာဗွန်ကော်ပြန့်အဆင့် ထုထည်အပိုင်း = ၁

လီသီယမ်ဘက်ထရီလျှပ်ကူးပစ္စည်းဒီဇိုင်းဒီဇိုင်းသည် အလွန်အရေးကြီးပြီး ယခုအခါ လစ်သီယမ်ဘက်ထရီလျှပ်ကူးပစ္စည်းဒီဇိုင်းဆိုင်ရာ အခြေခံအသိပညာကို အတိုချုံးမိတ်ဆက်ပေးလိုက်ပါသည်။

(၁) လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ သီအိုရီပိုင်းစွမ်းရည် လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ သီအိုရီပိုင်းစွမ်းရည်၊ ဆိုလိုသည်မှာ လျှပ်စစ်ဓာတုတုံ့ပြန်မှုတွင် ပါဝင်သည့် ပစ္စည်းရှိ လီသီယမ်အိုင်းယွန်းအားလုံးမှ ပံ့ပိုးပေးသည့် စွမ်းရည်၊ ၎င်း၏တန်ဖိုးကို အောက်ပါညီမျှခြင်းဖြင့် တွက်ချက်သည်-

ဥပမာအားဖြင့်၊ LiFePO4 အံသွားထုထည်သည် 157.756 g/mol ဖြစ်ပြီး ၎င်း၏သီအိုရီပိုင်းစွမ်းရည်မှာ-

ဤတွက်ချက်ထားသောတန်ဖိုးသည် သီအိုရီအရဂရမ်စွမ်းရည်မျှသာဖြစ်သည်။ ပစ္စည်း၏ နောက်ပြန်လှည့်နိုင်သော ဖွဲ့စည်းပုံကို သေချာစေရန်အတွက်၊ အမှန်တကယ် လီသီယမ်အိုင်းယွန်း ဖယ်ရှားရေးကိန်းဂဏန်းသည် 1 ထက်နည်းပြီး ပစ္စည်း၏ အမှန်တကယ် ဂရမ်စွမ်းရည်မှာ-

ပစ္စည်း၏အမှန်တကယ်ဂရမ်စွမ်းရည် = လစ်သီယမ်အိုင်းယွန်းဖြုတ်သည့်ကိန်း၏သီအိုရီစွမ်းရည်

(၂) ဘက်ထရီ ဒီဇိုင်းစွမ်းရည်နှင့် အလွန်အမင်း တစ်ဖက်သတ်သိပ်သည်းဆ ဘက်ထရီ ဒီဇိုင်းစွမ်းရည်ကို အောက်ပါပုံသေနည်းများဖြင့် တွက်ချက်နိုင်သည်- ဘက်ထရီ ဒီဇိုင်းစွမ်းရည် = အပေါ်ယံမျက်နှာပြင် သိပ်သည်းဆ တက်ကြွသော ပစ္စည်းအချိုးအစား တက်ကြွသော ပစ္စည်း ဂရမ် စွမ်းရည် တိုင်လုံး စာရွက်အပေါ်ယံပိုင်း ဧရိယာ

၎င်းတို့အနက်၊ အပေါ်ယံမျက်နှာပြင်သိပ်သည်းဆသည် အဓိကဒီဇိုင်းသတ်မှတ်ချက်တစ်ခုဖြစ်သည်။ compaction density သည် မပြောင်းလဲသောအခါ၊ coating surface density တိုးလာခြင်းသည် pole sheet thickness တိုးလာခြင်း၊ electron transmission distance တိုးလာပြီး electron resistance တိုးလာသော်လည်း တိုးလာသော degree ကို ကန့်သတ်ထားပါသည်။ ထူသောလျှပ်ကူးပစ္စည်းစာရွက်တွင်၊ electrolyte ရှိ လစ်သီယမ်အိုင်းယွန်းများ၏ ရွှေ့ပြောင်းမှု impedance တိုးလာခြင်းသည် အချိုးဝိသေသလက္ခဏာများကို ထိခိုက်စေသည့် အဓိကအကြောင်းရင်းဖြစ်သည်။ porosity နှင့် pore twists များကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားခြင်းဖြင့် ချွေးပေါက်အတွင်းရှိ အိုင်းယွန်းများ၏ ရွှေ့ပြောင်းမှုအကွာအဝေးသည် pole sheet ၏ အထူထက် အဆများစွာ ပိုပါသည်။

(၃) အနုတ်လက္ခဏာ-အပြုသဘောဆောင်နိုင်မှု အချိုး N/P အနုတ်စွမ်းရည်နှင့် အပြုသဘောစွမ်းရည် အချိုးကို အောက်ပါအတိုင်း သတ်မှတ်သည်။

N/P သည် 1.0 ထက် ကြီးသင့်သည်၊ ယေဘုယျအားဖြင့် 1.04~1.20 သည် ဘေးကင်းရေး ဒီဇိုင်းတွင် အဓိက ဖြစ်သည်၊ လက်ခံနိုင်သော အရင်းအမြစ် မရှိဘဲ မိုးရွာခြင်းမှ အနှုတ်ဘက်မှ လစ်သီယမ် အိုင်းယွန်းကို ကာကွယ်ရန်၊ coating deviation ကဲ့သို့သော လုပ်ငန်းစဉ် စွမ်းရည်ကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားရန် ဒီဇိုင်း။ သို့သော်လည်း N/P သည် အလွန်ကြီးမားသောအခါ၊ ဘက်ထရီသည် နောက်ပြန်လှည့်၍မရသော စွမ်းရည်များ ဆုံးရှုံးသွားမည်ဖြစ်ပြီး ဘက်ထရီပမာဏနည်းပါးကာ ဘက်ထရီစွမ်းအင်သိပ်သည်းဆ နည်းပါးသွားမည်ဖြစ်သည်။

လီသီယမ် တိုက်တေနိတ် anode အတွက်၊ အပြုသဘော လျှပ်ကူးပစ္စည်း ပိုလျှံသော ဒီဇိုင်းကို လက်ခံပြီး ဘက်ထရီ စွမ်းရည်ကို လီသီယမ် တိုက်တေနိတ် anode ၏ စွမ်းရည်ဖြင့် ဆုံးဖြတ်သည်။ အပြုသဘောပိုလျှံသော ဒီဇိုင်းသည် ဘက်ထရီ၏ မြင့်မားသော အပူချိန်စွမ်းဆောင်ရည်ကို မြှင့်တင်ရန် အထောက်အကူဖြစ်စေသည်- မြင့်မားသော အပူချိန်ဓာတ်ငွေ့သည် အဓိကအားဖြင့် အနုတ်လျှပ်ကူးပစ္စည်းမှ လာပါသည်။ အပြုသဘောဆောင်သောပိုလျှံသောဒီဇိုင်းတွင်၊ အနုတ်လက္ခဏာအလားအလာနည်းပါးပြီး လီသီယမ်တိုက်တေနိတ်၏မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် SEI ဖလင်ကိုဖန်တီးရန်ပိုမိုလွယ်ကူသည်။

(၄) အပေါ်ယံမျက်နှာပြင်၏ သေးငယ်သောသိပ်သည်းဆနှင့် ယိုစိမ့်မှု ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်တွင်၊ ဘက်ထရီလျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ အပေါ်ယံပိုင်းကျုံ့သိပ်သည်းဆကို အောက်ပါဖော်မြူလာဖြင့် တွက်ချက်ပါသည်။ တိုင်စာရွက်ကို လှိမ့်လိုက်သောအခါ၊ သတ္တုသတ္တုပါးကို ချဲ့ပြီး ကြိတ်စက်ပြီးနောက် အပေါ်ယံသိပ်သည်းဆကို အောက်ပါဖော်မြူလာဖြင့် တွက်ချက်သည်။

အထက်တွင်ဖော်ပြခဲ့သည့်အတိုင်း၊ အပေါ်ယံလွှာတွင် သက်ရှိပစ္စည်းအဆင့်၊ ကာဗွန်ကော်ပြန့်အဆင့်နှင့် ချွေးပေါက်များပါ၀င်ပြီး porosity ကို အောက်ပါညီမျှခြင်းဖြင့် တွက်ချက်နိုင်ပါသည်။

၎င်းတို့အနက်မှ အပေါ်ယံလွှာ၏ ပျမ်းမျှသိပ်သည်းဆမှာ- လီသီယမ်ဘက်ထရီလျှပ်ကူးပစ္စည်းသည် အမှုန့်အမှုန်တစ်မျိုးဖြစ်ပြီး အမှုန်အမွှားများ၏ မျက်နှာပြင်သည် ကြမ်းတမ်းခြင်း၊ ပုံသဏ္ဍာန်မမှန်ခြင်း၊ စုပုံလာသောအခါ၊ အမှုန်များနှင့် အမှုန်များကြားရှိ အမှုန်များနှင့် အချို့အမှုန်များကိုယ်တိုင် အက်ကွဲကြောင်းများနှင့် ချွေးပေါက်များ၊ ထို့ကြောင့် အမှုန့်ထုထည်အပါအဝင် အမှုန့်ထုထည်၊ အမှုန့်အမှုန်များနှင့် အမှုန်များကြားရှိ ချွေးပေါက်များ၊ ထို့ကြောင့်၊ သက်ဆိုင်ရာ electrode coating density နှင့် porosity တို့ကို ကိုယ်စားပြုပါသည်။ အမှုန်အမွှားများ၏ သိပ်သည်းဆသည် တစ်ယူနစ် ထုထည်တစ်ခုလျှင် အမှုန့်၏ ဒြပ်ထုကို ရည်ညွှန်းသည်။ အမှုန့်၏ထုထည်အရ ၎င်းကို စစ်မှန်သောသိပ်သည်းဆ၊ အမှုန်သိပ်သည်းဆနှင့် စုဆောင်းသိပ်သည်းဆဟူ၍ သုံးမျိုးခွဲခြားထားသည်။ အမျိုးမျိုးသောသိပ်သည်းဆများကို အောက်ပါအတိုင်းသတ်မှတ်ထားသည်။

1. စစ်မှန်သောသိပ်သည်းဆဆိုသည်မှာ အမှုန်များ၏အတွင်းပိုင်းနှင့် အပြင်ပိုင်းကွာဟချက်မပါဝင်ဘဲ အမှုန့်ထုထည် (အစစ်အမှန်ထုထည်) ဖြင့် ပိုင်းခြားခြင်းဖြင့် ရရှိသောသိပ်သည်းဆကို ရည်ညွှန်းသည်။ ဆိုလိုသည်မှာ အပျက်အစီးများအားလုံး၏ ထုထည်ကို ဖယ်ထုတ်ပြီးနောက် ရရှိသော အရာဝတ္ထု၏ သိပ်သည်းဆ။
2. Particle density ဆိုသည်မှာ အပေါက်နှင့် အပိတ်အပေါက် အပါအဝင် အမှုန်ထုထည်ဖြင့် ပိုင်းခြားထားသော အမှုန်ထုထည်ကို ပိုင်းခြားခြင်းဖြင့် ရရှိသော အမှုန်များ၏ သိပ်သည်းဆကို ရည်ညွှန်းသည်။ ဆိုလိုသည်မှာ အမှုန်များကြားရှိ ကွာဟမှု ဖြစ်သော်လည်း အမှုန်အတွင်းပိုင်းရှိ ချွေးပေါက်များ မဟုတ်ဘဲ အမှုန်များ၏ သိပ်သည်းဆများ ဖြစ်သည်။
3. စုဆောင်းသိပ်သည်းဆ ဆိုသည်မှာ အလွှာသိပ်သည်းဆ ဆိုသည်မှာ အမှုန့်ဖြင့်ပြုလုပ်ထားသော အပေါ်ယံလွှာ၏ ထုထည်ဖြင့် ပိုင်းခြားထားသော အမှုန့်ထုထည်မှ ရရှိသော သိပ်သည်းဆကို ရည်ညွှန်းပါသည်။ အသုံးပြုသည့် ထုထည်တွင် အမှုန်များ၏ ချွေးပေါက်များ နှင့် အမှုန်များကြားတွင် ပျက်ပြယ်မှုများ ပါဝင်သည်။

တူညီသောအမှုန့်အတွက်၊ စစ်မှန်သောသိပ်သည်းဆ > အမှုန်သိပ်သည်းဆ > ထုပ်ပိုးမှုသိပ်သည်းဆ။ အမှုန့်၏ porosity သည် အမှုန့်အမှုန်များ အပေါ်ယံလွှာရှိ ချွေးပေါက်များ၏ အချိုးဖြစ်ပြီး၊ ဆိုလိုသည်မှာ အမှုန့်အမှုန်များနှင့် အမှုန်များ၏ ချွေးပေါက်များကြားတွင် ပျက်ပြယ်နေသော ထုထည်အချိုးအစား၊ အများအားဖြင့် ဖော်ပြထားသည့် အပေါ်ယံပိုင်း၏ စုစုပေါင်းထုထည်နှင့်၊ ရာခိုင်နှုန်းအဖြစ်။ အမှုန့်၏ porosity သည် particle morphology၊ surface state, particle size နှင့် particle size distribution တို့နှင့် သက်ဆိုင်သော ပြည့်စုံသောပိုင်ဆိုင်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်း၏ porosity သည် electrolyte နှင့် lithium ion transmission ၏ စိမ့်ဝင်မှုကို တိုက်ရိုက်သက်ရောက်သည်။ ယေဘူယျအားဖြင့်၊ ချွေးပေါက်ပိုကြီးလေ၊ electrolyte စိမ့်ဝင်မှု ပိုလွယ်ကူလေ၊ လစ်သီယမ်အိုင်းယွန်း ထုတ်လွှင့်မှု ပိုမြန်လေဖြစ်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ လီသီယမ်ဘက်ထရီ၏ ဒီဇိုင်းတွင် တစ်ခါတစ်ရံတွင် porosity ကို ဆုံးဖြတ်ရန်၊ အသုံးများသော ပြဒါးဖိအားနည်း၊ ဓာတ်ငွေ့ စုပ်ယူမှုနည်းလမ်း စသည်တို့ကို သိပ်သည်းဆ တွက်ချက်ခြင်းဖြင့် ရရှိနိုင်သည်။ တွက်ချက်မှုများအတွက် မတူညီသော သိပ်သည်းဆများကို အသုံးပြုသည့်အခါ ပေါက်ကြားပေါက်များသည် ကွဲပြားသောသက်ရောက်မှုများ ရှိနိုင်သည်။ သက်ရှိပစ္စည်း၏ porosity ၏သိပ်သည်းဆ၊ conductive agent နှင့် binder ကို စစ်မှန်သောသိပ်သည်းဆဖြင့် တွက်ချက်သောအခါ၊ တွက်ချက်ထားသော porosity သည် အမှုန်အတွင်းရှိ အမှုန်များနှင့် ကွာဟချက်တို့ပါဝင်သည်။ သက်ရှိအရာဝတ္ထု၏ porosity၊ conductive agent နှင့် binder ကို particle density ဖြင့် တွက်ချက်သောအခါ porosity တွင် တွက်ချက်ထားသော porosity တွင် particles များကြား ကွာဟချက်ပါဝင်သော်လည်း အမှုန်အတွင်းပိုင်းကွာဟချက်မဟုတ်ပေ။ ထို့ကြောင့်၊ လီသီယမ်ဘက်ထရီလျှပ်ကူးပစ္စည်းစာရွက်၏ ပေါက်ပေါက်အရွယ်အစားမှာလည်း ဘက်စုံစကေးရှိပြီး ယေဘုယျအားဖြင့် အမှုန်များကြားကွာဟမှုသည် မိုက်ခရိုစကေးအရွယ်အစားဖြစ်ပြီး အမှုန်အတွင်းပိုင်းကွာဟမှုသည် နာနိုမီတာမှ sub-submicron စကေးအထိဖြစ်သည်။ စိမ့်ဝင်လျှပ်ကူးပစ္စည်းများတွင်၊ ထိရောက်သော ပျံ့နှံ့မှုနှင့် လျှပ်ကူးနိုင်စွမ်းကဲ့သို့သော သယ်ယူပို့ဆောင်ရေးဂုဏ်သတ္တိများ၏ ဆက်နွယ်မှုကို အောက်ပါညီမျှခြင်းဖြင့် ဖော်ပြနိုင်သည်-

D0 သည် ပစ္စည်းကိုယ်နှိုက်၏ ပင်ကိုယ်ပျံ့နှံ့မှု (conduction) နှုန်းကို ကိုယ်စားပြုသည့်နေရာတွင်၊ ε သည် သက်ဆိုင်ရာအဆင့်၏ ထုထည်အပိုင်းအစဖြစ်ပြီး τ သည် သက်ဆိုင်ရာအဆင့်၏ ပတ်လမ်းကွေးကောက်မှုဖြစ်သည်။ macroscopic တူညီသောပုံစံတွင်၊ Bruggeman ဆက်ဆံရေးကို ယေဘုယျအားဖြင့် အသုံးပြုပြီး porous electrodes များ၏ ထိရောက်သော အကောင်းမြင်မှုကို ခန့်မှန်းရန် coefficient ɑ = 1.5 ကို ယူပါသည်။

လစ်သီယမ်အိုင်းယွန်းများကို အီလက်ထရွန်းမှတဆင့် သယ်ဆောင်ပေးသည့် ချွေးပေါက်များအတွင်း အီလက်ထရွန်းများ ပြည့်နေပြီး လီသီယမ်အိုင်းယွန်းများ၏ လျှပ်ကူးပုံသွင်ပြင်လက္ခဏာများသည် ချွေးပေါက်များနှင့် နီးကပ်စွာ ဆက်စပ်နေပါသည်။ porosity ပိုကြီးလေ၊ electrolyte အဆင့်၏ ထုထည်အပိုင်း ပိုများလေလေ၊ လီသီယမ်အိုင်းယွန်းများ၏ ထိရောက်သော ကူးဆက်နိုင်မှု ပိုများလေဖြစ်သည်။ အပြုသဘောဆောင်သောလျှပ်ကူးပစ္စည်းစာရွက်တွင်၊ ကာဗွန်ကော်ပတ်အဆင့်မှတစ်ဆင့် အီလက်ထရွန်များကို ကာဗွန်ကော်ပတ်အဆင့်၏ ထုထည်အပိုင်းပိုင်းနှင့် ကာဗွန်ကော်အဆင့်၏လမ်းလွှဲသည် အီလက်ထရွန်၏ထိရောက်သောစီးကူးနိုင်မှုကို တိုက်ရိုက်ဆုံးဖြတ်သည်။

ကာဗွန်ကော်ပတ်၏ ထုထည်အပိုင်းအစနှင့် ထုထည်အပိုင်းသည် ဆန့်ကျင်ဘက်ဖြစ်ပြီး ကြီးမားသော ချွေးပေါက်များသည် ကာဗွန်ကော်ပတ်၏ ထုထည်အပိုင်းသို့ မလွဲမသွေ ဖြစ်ပေါ်စေသောကြောင့်၊ လီသီယမ်အိုင်းယွန်းနှင့် အီလက်ထရွန်တို့၏ ထိရောက်သော လျှပ်ကူးနည်းဂုဏ်သတ္တိများသည် ပုံ 2 တွင် ပြထားသည့်အတိုင်း ဆန့်ကျင်ဘက်ဖြစ်နေပါသည်။ . porosity လျော့နည်းလာသည်နှင့်အမျှ အီလက်ထရွန်ထိရောက်သော conductivity တိုးလာချိန်တွင် lithium ion ထိရောက်သော conductivity လျော့နည်းသွားသည်။ နှစ်ခုကို ဟန်ချက်ညီအောင်ပြုလုပ်ပုံမှာလည်း electrode ဒီဇိုင်းတွင် အရေးကြီးပါသည်။

ပုံ 2 porosity နှင့် လစ်သီယမ် အိုင်းယွန်း နှင့် အီလက်ထရွန် လျှပ်ကူးနိုင်မှုဆိုင်ရာ ဇယားကွက်

2. တိုင်ချို့ယွင်းချက် အမျိုးအစားနှင့် ထောက်လှမ်းခြင်း။

 

လက်ရှိတွင်၊ ဘက်ထရီတိုင်ပြင်ဆင်မှုလုပ်ငန်းစဉ်တွင်၊ ထုတ်ကုန်များ၏ထုတ်လုပ်မှုဆိုင်ရာချို့ယွင်းချက်များကိုထိရောက်စွာဖော်ထုတ်ရန်၊ ချွတ်ယွင်းသောထုတ်ကုန်များကိုဖယ်ရှားရန်နှင့်ထုတ်လုပ်မှုလိုင်းသို့အချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီတုံ့ပြန်ချက်၊ ထုတ်လုပ်မှုအတွက်အလိုအလျောက်သို့မဟုတ်လက်စွဲဖြင့်ချိန်ညှိမှုများပြုလုပ်ရန်အွန်လိုင်းရှာဖွေခြင်းနည်းပညာများကိုပိုမိုအသုံးပြုလာသည်။ ချို့ယွင်းမှုနှုန်းကို လျှော့ချရန်၊

ဝါးစာရွက်ထုတ်လုပ်ခြင်းတွင် အသုံးများသော အွန်လိုင်း ထောက်လှမ်းခြင်းနည်းပညာများတွင် slurry characteristic detection၊ pole sheet quality detection၊ dimension detection အစရှိသည်တို့ ပါဝင်သည်၊ ဥပမာ- (1) rheological ကိုသိရှိရန် အွန်လိုင်း viscosity meter ကို coating storage tank တွင် တိုက်ရိုက်တပ်ဆင်ထားပါသည်။ အချိန်နှင့်တပြေးညီ slurry ၏ဝိသေသလက္ခဏာများ၊ slurry ၏တည်ငြိမ်မှုကိုစမ်းသပ်ပါ။ (2) အပေါ်ယံပိုင်း လုပ်ငန်းစဉ်တွင် X-ray သို့မဟုတ် β -ray ကို အသုံးပြု၍ ၎င်း၏ မြင့်မားသော တိုင်းတာမှု တိကျမှု၊ သို့သော် ကြီးမားသော ဓာတ်ရောင်ခြည်၊ စက်ပစ္စည်းများ၏ ဈေးနှုန်းကြီးမြင့်မှုနှင့် ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းမှု ပြဿနာ၊ (၃) လေဆာအွန်လိုင်းအထူတိုင်းတာခြင်းနည်းပညာသည် ဝါးလုံးအထူကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုသည်၊ တိုင်းတာမှုတိကျမှုသည် ± 3. 1 μ m သို့ရောက်ရှိနိုင်ပြီး၊ ၎င်းသည် အချိန်နှင့်တပြေးညီတိုင်းတာထားသောအထူနှင့်အထူ၏ပြောင်းလဲမှုလမ်းကြောင်းကိုပြသနိုင်သည်၊ နှင့်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာ; (၄) CCD အမြင်နည်းပညာ၊ ဆိုလိုသည်မှာ တိုင်းတာထားသော အရာဝတ္တုကို စကင်န်ဖတ်ရန်၊ ချွတ်ယွင်းချက်အမျိုးအစားများကို အချိန်နှင့်တပြေးညီ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန်၊ အဖျက်မဟုတ်သော အွန်လိုင်းပေါ်မှ ထောက်လှမ်းမှုကို နားလည်သဘောပေါက်ပါ။

အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုအတွက် ကိရိယာတစ်ခုအနေဖြင့်၊ တစ်ပိုင်းကုန်ချောထုတ်ကုန်များအတွက် အရည်အချင်းပြည့်မီ/မပြည့်မီသော စံနှုန်းများကို ဆုံးဖြတ်ရန်အတွက် အွန်လိုင်းစမ်းသပ်ခြင်းနည်းပညာသည် ချို့ယွင်းချက်များနှင့် ဘက်ထရီစွမ်းဆောင်ရည်အကြား ဆက်စပ်မှုကို နားလည်ရန်လည်း မရှိမဖြစ်လိုအပ်ပါသည်။

နောက်ဆုံးအပိုင်းတွင်၊ လီသီယမ်-အိုင်းယွန်းဘက်ထရီ၏ မျက်နှာပြင်ချွတ်ယွင်းချက်ရှာဖွေရေးနည်းပညာအသစ်၊ အနီအောက်ရောင်ခြည်အပူပုံရိပ်ဖော်နည်းပညာနှင့် ဤမတူညီသောချို့ယွင်းချက်များနှင့် လျှပ်စစ်ဓာတုစွမ်းဆောင်မှုတို့ကြား ဆက်နွယ်မှုကို အကျဉ်းချုံးမိတ်ဆက်ခဲ့သည်။consult D. Mohanty A စေ့စေ့စပ်စပ်လေ့လာချက် Mohanty et al.

(၁) ဝါးလုံးမျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် အဖြစ်များသော ချို့ယွင်းချက်များ

ပုံ 3 သည် လစ်သီယမ်အိုင်းယွန်းဘက်ထရီလျှပ်ကူးပစ္စည်း၏မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ ဘုံချို့ယွင်းချက်များအား ဘယ်ဘက်တွင် optical ပုံနှင့် ညာဘက်တွင် thermal imager မှဖမ်းယူထားသောပုံကိုပြသထားသည်။

ပုံ 3 ဝါးလုံးမျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ ဘုံချို့ယွင်းချက်များ- (က၊ ခ) စူလာစာအိတ်/စုပုံ၊ (ဂ၊ ဃ) ပစ္စည်း/ pinhole ၊ (င၊ စ) သတ္တုကိုယ်ထည်၊ (ဆ၊ ဇ) မညီညာသောအပေါ်ယံပိုင်း

 

(က၊ ခ) စူလာ/စုပုံလာသည်၊ slurry ကို အညီအမျှ မွှေသည် သို့မဟုတ် အပေါ်ယံအမြန်နှုန်း မတည်မငြိမ်ဖြစ်လျှင် ထိုကဲ့သို့သော ချို့ယွင်းချက်များ ဖြစ်ပေါ်နိုင်သည်။ ကော်နှင့် ကာဗွန်အနက်ရောင် လျှပ်ကူးပစ္စည်း ပေါင်းစပ်မှုသည် တက်ကြွသော ပါဝင်ပစ္စည်းများ၏ ပါဝင်မှုနည်းပါးပြီး ပိုလာတက်ဘလက်များ၏ ပေါ့ပါးသော အလေးချိန်ကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်။

 

(ဂ၊ ဃ) အပေါက်/အပေါက်၊ ဤချို့ယွင်းနေသောနေရာများကို ဖုံးအုပ်မထားဘဲ များသောအားဖြင့် slurry တွင် ပူဖောင်းများထွက်လာသည်။ ၎င်းတို့သည် တက်ကြွသောပစ္စည်းပမာဏကို လျှော့ချပြီး စုဆောင်းသူအား အီလက်ထရွန်းကို ထုတ်လွှတ်ကာ လျှပ်စစ်ဓာတုစွမ်းရည်ကို လျှော့ချပေးသည်။

 

(င၊ စ) သတ္တုပြင်ပကိုယ်ထည်များ၊ slurry သို့မဟုတ် သတ္တုတွင်းထွက်ပစ္စည်းများနှင့် ပတ်ဝန်းကျင်တွင် မိတ်ဆက်ပြီး သတ္တုပြင်ပကိုယ်ထည်များသည် လီသီယမ်ဘက်ထရီများကို ကြီးစွာသော အန္တရာယ်ဖြစ်စေနိုင်သည်။ ကြီးမားသော သတ္တုအမှုန်များသည် diaphragm ကို တိုက်ရိုက် ထိခိုက်စေပြီး ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ တိုတောင်းသော circuit တစ်ခုဖြစ်သည့် positive နှင့် negative electrodes များကြားတွင် တိုတောင်းသော circuit ကို ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။ ထို့အပြင်၊ သတ္တုကိုယ်ထည်အား အပြုသဘောဆောင်သောလျှပ်ကူးပစ္စည်းထဲသို့ ရောစပ်လိုက်သောအခါ၊ အားသွင်းပြီးနောက် အပြုသဘောဆောင်သောအလားအလာများ တိုးလာကာ သတ္တုသည် ပြေပြေသွားပြီး အီလက်ထရောနစ်မှတစ်ဆင့် ပျံ့နှံ့သွားကာ အနှုတ်မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် မိုးရွာစေကာ နောက်ဆုံးတွင် ဒိုင်ယာဖရမ်ကို ထိုးဖောက်ကာ တိုတောင်းသော ဆားကစ်တစ်ခုဖြစ်လာသည်။ ၎င်းသည် ဓာတုဖျက်သိမ်းရေး ဝါယာရှော့ဖြစ်သည်။ ဘက်ထရီစက်ရုံဆိုက်ရှိ အသုံးအများဆုံး သတ္တုတွင်းထွက်များသည် Fe၊ Cu၊ Zn၊ Al၊ Sn၊ SUS စသည်တို့ဖြစ်သည်။

 

(ဆ၊ ဇ) မညီညာသောအလွှာဖြစ်သော slurry ရောစပ်ခြင်းကဲ့သို့ မလုံလောက်ခြင်း၊ အမှုန်အမွှားများ ကြီးလာသောအခါ အစင်းကြောင်းများ ပေါ်ထွက်လွယ်သည်၊၊ မညီညာသော အပေါ်ယံပိုင်းကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်၊၊ ဘက်ထရီပမာဏ၏ ညီညွတ်မှုကို ထိခိုက်စေပြီး လုံးလုံးပေါ်လာသည်အထိပင်၊ အပေါ်ယံအစင်းမရှိ၊ စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် လုံခြုံမှုအပေါ် သက်ရောက်မှုရှိသည်။

(၂) Pole chip မျက်နှာပြင် ချို့ယွင်းချက်ကို ထောက်လှမ်းခြင်းနည်းပညာ အနီအောက်ရောင်ခြည် (IR) အပူပုံရိပ်ဖော်နည်းပညာကို လစ်သီယမ်-အိုင်းယွန်း ဘက်ထရီများ၏ စွမ်းဆောင်ရည်ကို ပျက်စီးစေမည့် ခြောက်သွေ့လျှပ်ကူးပစ္စည်းများတွင် အသေးစား ချို့ယွင်းချက်များကို ရှာဖွေရန် အသုံးပြုပါသည်။ အွန်လိုင်းမှ ထောက်လှမ်းမှုအတွင်း၊ လျှပ်ကူးပစ္စည်း ချို့ယွင်းချက် သို့မဟုတ် ညစ်ညမ်းမှုကို တွေ့ရှိပါက၊ ၎င်းကို တိုင်စာရွက်ပေါ်တွင် အမှတ်အသားပြုပါ၊ ၎င်းကို နောက်ဆက်တွဲလုပ်ငန်းစဉ်တွင် ဖယ်ရှားပြီး ထုတ်လုပ်မှုလိုင်းသို့ တုံ့ပြန်ပါ၊ ချွတ်ယွင်းချက်များကို ဖယ်ရှားရန် လုပ်ငန်းစဉ်ကို အချိန်မီ ချိန်ညှိပါ။ အနီအောက်ရောင်ခြည် ဆိုသည်မှာ ရေဒီယိုလှိုင်းများနှင့် မြင်နိုင်သော အလင်းရောင်ကဲ့သို့ သဘောသဘာဝတူညီသော လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းတစ်မျိုးဖြစ်သည်။ အထူးအီလက်ထရွန်နစ် ကိရိယာကို အရာဝတ္ထုတစ်ခု၏ မျက်နှာပြင်၏ အပူချိန် ဖြန့်ဖြူးမှုကို လူ့မျက်စိ၏ မြင်နိုင်သော ပုံရိပ်အဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲရန်နှင့် အရောင်အမျိုးမျိုးဖြင့် အရာဝတ္ထုတစ်ခု၏ မျက်နှာပြင်၏ အပူချိန် ဖြန့်ဖြူးမှုကို ပြသရန်အတွက် အနီအောက်ရောင်ခြည်ဖြင့် ပုံရိပ်ဖော်ခြင်းနည်းပညာကို ခေါ်သည်။ ဤအီလက်ထရွန်နစ်ကိရိယာကို အနီအောက်ရောင်ခြည်အပူဓါတ်ပုံရိုက်ခြင်းဟုခေါ်သည်။ ပကတိသုည (-2 ℃) အထက်ရှိ အရာဝတ္ထုအားလုံးသည် အနီအောက်ရောင်ခြည်ကို ထုတ်လွှတ်သည်။
ပုံ 4 တွင်ပြထားသည့်အတိုင်း၊ အနီအောက်ရောင်ခြည်အပူအနီးစပ်ဆုံး (IR Camera) သည် အနီအောက်ရောင်ခြည် ထောက်လှမ်းသည့်ကိရိယာကို အသုံးပြု၍ ပစ်မှတ်အရာဝတ္ထု၏ အနီအောက်ရောင်ခြည်စွမ်းအင်ဖြန့်ဖြူးမှုပုံစံကို လက်ခံရန်နှင့် ၎င်းကိုရရှိရန် အနီအောက်ရောင်ခြည်ဓာတ်ဖမ်းစက်၏ အလင်းပြန်သည့်ဒြပ်စင်ပေါ်တွင် ရောင်ပြန်ဟပ်နေပါသည်။ အရာဝတ္ထု၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အပူဖြန့်ဖြူးရေးစက်ကွင်းနှင့် ကိုက်ညီသော အနီအောက်ရောင်ခြည်အပူပုံ။ အရာဝတ္ထုတစ်ခု၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ချို့ယွင်းချက်ရှိနေသောအခါ၊ ဧရိယာအတွင်း အပူချိန် ပြောင်းလဲသွားပါသည်။ ထို့ကြောင့်၊ ဤနည်းပညာကို အရာဝတ္ထု၏မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ ချို့ယွင်းချက်များကို ထောက်လှမ်းရာတွင်လည်း အသုံးပြုနိုင်ပြီး အထူးသဖြင့် optical detection နည်းလမ်းဖြင့် ခွဲခြားမရနိုင်သော အချို့သောချို့ယွင်းချက်များအတွက် သင့်လျော်ပါသည်။ လီသီယမ်အိုင်းယွန်းဘက်ထရီ၏ အခြောက်ခံလျှပ်ကူးပစ္စည်းကို အွန်လိုင်းတွင် တွေ့ရှိသောအခါ၊ လျှပ်ကူးပစ္စည်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းအား ဖလက်ရှ်ဖြင့် ဦးစွာရောင်ခြည်ဖြာထွက်သည်၊ မျက်နှာပြင်အပူချိန်ပြောင်းလဲသွားပြီးနောက် မျက်နှာပြင်အပူချိန်ကို အပူဓါတ်ပုံရိုက်ခြင်းဖြင့် ရှာဖွေတွေ့ရှိပါသည်။ အပူဖြန့်ဝေပုံအား မြင်သာအောင်ပုံဖော်ထားပြီး မျက်နှာပြင်ချို့ယွင်းချက်များကို သိရှိနိုင်ပြီး ၎င်းတို့ကို အချိန်နှင့်တပြေးညီ အမှတ်အသားပြုရန် ပုံရိပ်ကို အချိန်နှင့်တပြေးညီ လုပ်ဆောင်ပြီး ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာထားသည်။ Mohanty လေ့လာမှုသည် လျှပ်ကူးပစ္စည်းစာရွက်မျက်နှာပြင်၏ အပူချိန်ဖြန့်ဖြူးပုံအား သိရှိနိုင်ရန် coater အခြောက်ခံမီးဖို၏ ထွက်ပေါက်တွင် အပူဓါတ်ပုံတစ်ခုကို တပ်ဆင်ထားသည်။

ပုံ 5 (က) သည် သာမန်မျက်စိဖြင့် ခွဲခြားမရနိုင်သော အလွန်သေးငယ်သော ချို့ယွင်းချက်ပါရှိနေသည့် NMC positive pole sheet ၏ အပေါ်ယံမျက်နှာပြင်၏ အပူချိန်ဖြန့်ဖြူးမြေပုံတစ်ခုဖြစ်သည်။ လမ်းကြောင်းအပိုင်းနှင့် သက်ဆိုင်သည့် အပူချိန်ဖြန့်ဖြူးမျဉ်းကွေးကို အတွင်းပိုင်း inset တွင် ပြသထားပြီး ချွတ်ယွင်းချက်အမှတ်တွင် အပူချိန်တက်သွားပါသည်။ ပုံ 5 (ခ) တွင်၊ တိုင်စာရွက်မျက်နှာပြင်၏ ချို့ယွင်းချက်နှင့် သက်ဆိုင်သော ဘောက်စ်အတွင်း အပူချိန် တိုးလာသည်။ သဖန်းသီး။ 6 သည် အပူချိန် အမြင့်ဆုံး ပူဖောင်း သို့မဟုတ် အစုလိုက်နှင့် သက်ဆိုင်သည့် အနုတ်လျှပ်ကူးပစ္စည်း စာရွက်၏ မျက်နှာပြင် အပူချိန် ဖြန့်ဖြူးမှု ပုံကြမ်းတစ်ခု ဖြစ်ပြီး အပူချိန် ကျဆင်းမှုသည် ပေါက်ပေါက် သို့မဟုတ် အစက်နှင့် သက်ဆိုင်သည်။

ပုံ 5 အပြုသဘောဆောင်သောလျှပ်ကူးပစ္စည်းစာရွက်မျက်နှာပြင်၏အပူချိန်ဖြန့်ဖြူး

ပုံ 6 အနုတ်လျှပ်ကူးပစ္စည်းမျက်နှာပြင်၏အပူချိန်ဖြန့်ဖြူး

 

အပူချိန်ဖြန့်ဖြူးခြင်း၏ အပူဓာတ်ပုံရိပ်ရှာဖွေခြင်းသည် ဝါးလုံးစာရွက်မျက်နှာပြင် ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းအတွက် ကောင်းမွန်သောနည်းလမ်းဖြစ်ပြီး တိုင်စာရွက်ထုတ်လုပ်ခြင်း၏ အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုအတွက် အသုံးပြုနိုင်သည်။၃။ ဘက်ထရီစွမ်းဆောင်ရည်အပေါ် တိုင်စာရွက်မျက်နှာပြင် ချို့ယွင်းချက်များ၏ သက်ရောက်မှု

 

(1) ဘက်ထရီမြှောက်စွမ်းရည်နှင့် Coulomb စွမ်းဆောင်ရည်အပေါ် သက်ရောက်မှု

ပုံ 7 သည် ဘက်ထရီအမြှောက်စွမ်းရည်နှင့် coulen ထိရောက်မှုအပေါ် စုစည်းမှုနှင့် pinhole ၏ လွှမ်းမိုးမှုကို ပြသသည်။ အစုလိုက်သည် ဘက်ထရီစွမ်းရည်ကို အမှန်တကယ်တိုးတက်စေနိုင်သော်လည်း coulen စွမ်းဆောင်ရည်ကို လျှော့ချနိုင်သည်။ ပင်ပေါက်သည် ဘက်ထရီပမာဏနှင့် Kulun စွမ်းဆောင်ရည်ကို လျှော့ချပေးပြီး Kulun စွမ်းဆောင်ရည်သည် မြင့်မားသောနှုန်းဖြင့် လျော့ကျသွားသည်။

ပုံ 7 တွင် cathode စုစည်းမှုနှင့် pinhole အကျိုးသက်ရောက်မှုသည် ဘက်ထရီစွမ်းရည်နှင့် ပုံ 8 ၏ထိရောက်မှုအပေါ်ယံပိုင်းမညီမညာဖြစ်ပြီး သတ္တုနိုင်ငံခြားကိုယ်ထည် Co နှင့် Al တွင် ဘက်ထရီစွမ်းရည်နှင့် ထိရောက်မှုမျဉ်းကွေး၏အကျိုးသက်ရောက်မှု၊ မညီညာသောအပေါ်ယံပိုင်းအပေါ်ယံပိုင်းသည် ဘက်ထရီယူနစ်ထုထည်ပမာဏကို 10% လျှော့ချသည် - 20% ဖြစ်သော်လည်း ဘက်ထရီတစ်ခုလုံး 60% ကျဆင်းသွားသည်မှာ ပိုလာအပိုင်းအတွင်းရှိ သက်ရှိထုထည်မှာ သိသိသာသာ လျော့ကျသွားသည်ကို ပြသသည်။ သတ္တု Co နိုင်ငံခြားကိုယ်ထည်သည် 2C နှင့် 5C တွင်ပင် မြင့်မားသော ချဲ့ထွင်မှုတွင်တောင်မှ Coulomb စွမ်းဆောင်ရည်ကို လျော့ကျစေပြီး သတ္တု Co ၏ ဓာတ်ပြုမှုတွင် သတ္တု Co ၏ဖွဲ့စည်းမှုကြောင့် ဖြစ်နိုင်သည်၊ သို့မဟုတ် ၎င်းသည် သတ္တုအမှုန်အမွှားများဖြစ်နိုင်သည်။ micro short circuit ကြောင့် diaphragm pore ကို ပိတ်ဆို့စေပါသည်။

ပုံ 8 အပြုသဘောဆောင်သောလျှပ်ကူးပစ္စည်းမညီညာသောအပေါ်ယံပိုင်းနှင့်သတ္တုနိုင်ငံခြားကိုယ်ထည် Co နှင့် Al တို့၏ဘက်ထရီအမြှောက်စွမ်းရည်နှင့် coulen ထိရောက်မှုအပေါ်သက်ရောက်မှုများ

cathode sheet ချို့ယွင်းချက်၏ အကျဉ်းချုပ်- cathode စာရွက်အပေါ်ယံပိုင်းရှိ စားသုံးမှုသည် ဘက်ထရီ၏ Coulomb ထိရောက်မှုကို လျော့နည်းစေသည်။ အပြုသဘောဆောင်သောအပေါ်ယံပိုင်း၏အပေါက်သည် Coulomb ၏ထိရောက်မှုကိုလျော့နည်းစေပြီး၊ အထူးသဖြင့်မြင့်မားသောလက်ရှိသိပ်သည်းဆတွင်အမြှောက်စွမ်းဆောင်ရည်အားနည်းစေသည်။ ကွဲပြားသော အလွှာသည် ချဲ့ထွင်မှု ညံ့ဖျင်းမှုကို ပြသသည်။ သတ္တုအမှုန်အမွှားများ ညစ်ညမ်းစေသော အရာများသည် မိုက်ခရိုရှော့ဆားကစ်များကို ဖြစ်စေနိုင်ပြီး၊ ထို့ကြောင့် ဘက်ထရီပမာဏကို များစွာလျှော့ချနိုင်သည်။
ပုံ 9 သည် များပြားသောစွမ်းရည်နှင့် ဘက်ထရီ၏ Kulun ထိရောက်မှုအပေါ် အနုတ်လက္ခဏာယိုစိမ့်သောသတ္တုပြားပြား၏ အကျိုးသက်ရောက်မှုကို ပြသသည်။ အနုတ်လျှပ်ကူးပစ္စည်းတွင် ယိုစိမ့်မှုဖြစ်ပေါ်သည့်အခါ ဘက်ထရီ၏ စွမ်းဆောင်ရည်မှာ သိသိသာသာ လျော့ကျသွားသော်လည်း ဂရမ်စွမ်းရည်မှာ ထင်ရှားခြင်းမရှိသည့်အပြင် Kulun ၏ ထိရောက်မှုအပေါ် သက်ရောက်မှုမှာ သိသာထင်ရှားခြင်းမရှိပေ။

 

ပုံ 9 ဘက်ထရီအမြှောက်စွမ်းရည်နှင့် Kulun ထိရောက်မှုအပေါ် အနုတ်လျှပ်ကူးပစ္စည်းယိုစိမ့်မှု သတ္တုပြားအပေါ် လွှမ်းမိုးမှု (2) ဘက်ထရီအမြှောက်စက်ဝန်းစွမ်းဆောင်ရည်အပေါ် လွှမ်းမိုးမှု ပုံ 10 သည် ဘက်ထရီအမြှောက်စက်ဝန်းရှိ လျှပ်ကူးပစ္စည်းမျက်နှာပြင်ချို့ယွင်းချက်၏ လွှမ်းမိုးမှုရလဒ်ဖြစ်သည်။ သြဇာလွှမ်းမိုးမှုရလဒ်များကို အောက်ပါအတိုင်း အကျဉ်းချုံးထားသည်။
Egregation- 2C တွင်၊ 200 cycles ၏ စွမ်းဆောင်ရည် ထိန်းသိမ်းမှုနှုန်းမှာ 70% ဖြစ်ပြီး ချို့ယွင်းနေသော ဘက်ထရီမှာ 12% ဖြစ်ပြီး 5C လည်ပတ်မှုတွင်၊ 200 cycles ၏ စွမ်းဆောင်ရည် ထိန်းသိမ်းမှုနှုန်းမှာ 50% ဖြစ်ပြီး ချွတ်ယွင်းနေသော ဘက်ထရီမှာ 14% ဖြစ်သည်။
အပ်အပေါက်- စွမ်းဆောင်ရည် လျော့ချခြင်းသည် ထင်ရှားသော်လည်း အလုံးစုံ ချို့ယွင်းချက် လျော့ပါးမှုသည် မြန်ဆန်ပြီး 200 cycles 2C နှင့် 5C ၏ စွမ်းဆောင်ရည် ထိန်းသိမ်းမှုနှုန်းမှာ 47% နှင့် 40% အသီးသီးဖြစ်သည်။
သတ္တုနိုင်ငံခြားကိုယ်ထည်- သတ္တုပြင်ပကိုယ်ထည်၏ စွမ်းဆောင်ရည်သည် ၀ါယာများစွာနီးပါးဖြစ်ပြီး၊ သတ္တုနိုင်ငံခြားကိုယ်ထည်၏ 0C လည်ပတ်နိုင်စွမ်းသည် Al foil သိသိသာသာ လျော့နည်းသွားသည်။
Leak strip- တူညီသောယိုစိမ့်ဧရိယာအတွက်၊ သေးငယ်သောအစင်းပေါင်းများစွာ၏ဘက်ထရီစွမ်းရည်သည် ပိုကြီးသောအစင်းထက် ပိုမြန်သည် (47C တွင် 200 cycles အတွက် 5%) (7C တွင် 200 cycles အတွက် 5%)။ အစင်းကြောင်း အရေအတွက် များလေလေ ဘက်ထရီ လည်ပတ်မှုအပေါ် သက်ရောက်မှု ကြီးလေလေ ဖြစ်သည်။

ပုံ 10 ဆဲလ်နှုန်းလည်ပတ်မှုအပေါ် လျှပ်ကူးပစ္စည်းစာရွက်မျက်နှာပြင် ချို့ယွင်းချက်များ၏သက်ရောက်မှု

 

ကိုးကား- [1] လိုင်းအတွင်းလေဆာ caliper နှင့် IR အပူချိန်တိုင်းတာမှုနည်းလမ်းများဖြင့် slot-die-coated lithium ဒုတိယဘက်ထရီအီလက်ထရွန်ကို အဖျက်အဆီးမရှိအကဲဖြတ်ခြင်း [J].ANALYTICALMETHODS.2014၊ 6(3): 674-683.[2]သက်ရောက်မှု လျှပ်ကူးပစ္စည်းထုတ်လုပ်မှု၏ လစ်သီယမ်-အိုင်းယွန်း ဘက်ထရီများ၏ စွမ်းဆောင်ရည်ဆိုင်ရာ ချို့ယွင်းချက်များ- ဘက်ထရီချို့ယွင်းမှု သတင်းရင်းမြစ်များ[J]။Journal of Power Sources.2016၊ 312:70-79။